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透射TEM样品制样

利用FIB进行各类样品的TEM样品制备,包括块体、薄膜、芯片、颗粒等。破坏范围小,可对粉末、微纳米线、文物制样

品牌
ZEISS
型号
Zeiss Crossbeam540
  • TEM样品制样(/个)
4000.00元/个数
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